日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
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產(chǎn)品名稱(chēng):
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品型號(hào):
AE-1152D_11C
產(chǎn)品展商:
其它品牌
產(chǎn)品文檔:
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簡(jiǎn)單介紹
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀自動(dòng)測(cè)量超低電阻的醉佳選擇配備BIN功能，判斷結(jié)果可以分為11類(lèi)
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀 的詳細(xì)介紹
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
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非常適合分流電阻器等的超低電阻測(cè)量。
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取消對(duì)熱電效應(yīng)的測(cè)量
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脈沖測(cè)量電流，以減少測(cè)量端子的自熱和磨損
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接觸檢查功能標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
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測(cè)量：0.0000mΩ?1.5000kΩ
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％測(cè)量值：0.1mΩ?1kΩ/±50.00％[小分辨率10nΩ]
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GP-IB / RS-232C / Centronics接口（可選）
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配備BIN功能[BIN1至BIN9] （多可以分類(lèi)11個(gè)），集電極開(kāi)路輸出，LED顯示和蜂鳴器聲音
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測(cè)量電流/測(cè)量電壓異常檢查電路的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備
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移位輸出可能
日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀測(cè)量范圍和基本精度（環(huán)境溫度23°C±5°C）
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測(cè)量范圍
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測(cè)量范圍
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解析度
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實(shí)測(cè)電流
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測(cè)量精度
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1毫歐
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0.0000mΩ?1.5000mΩ
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0.1微歐
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3A
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±（0.01 Pasento RDG Tasu 1Myuomega）
±3Digit [平均]
±4位數(shù)[SLOW]
±5digit [快]
內(nèi)
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10毫歐
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0.000mΩ至15.000mΩ
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1微歐
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1A
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100毫歐
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0.00mΩ至150.00mΩ
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10微歐
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1Ω
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0.0000Ω?1.5000Ω
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100微歐
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100毫安
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10Ω
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0.000Ω至15.000Ω
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1毫歐
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100Ω
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0.00Ω至150.00Ω
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10毫歐
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10毫安
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1KΩ
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0.0000kΩ至1.5,000kΩ
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100毫歐
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1毫安
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％
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0.1mΩ?1kΩ/±50.00％
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0.01％[10nΩ]
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看上面
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參考規(guī)格
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測(cè)量端子開(kāi)路電壓
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5V以下
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測(cè)量方式
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4端子測(cè)量[可進(jìn)行接觸檢查]
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采樣時(shí)間
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[日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀自由運(yùn)行] 2至10次/秒
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[外部啟動(dòng)]大約9毫秒-400毫秒。
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比較器設(shè)定范圍
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上限和下限均為[0至15000]，
％范圍：低0至-50％，高0至+ 50％
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比較器判斷結(jié)果顯示
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[BIN1至BIN9]顯示和蜂鳴器
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控制信號(hào)
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測(cè)量開(kāi)始信號(hào)：以“ L” [0V]→“ H” [DC12V]開(kāi)始
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保持信號(hào)：斷開(kāi)，“ H” [DC12V]：自由運(yùn)行，“ L” [0V]：保持
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判斷結(jié)果信號(hào)[LO / GO（BIN1至BIN9）/ H1]
：集電極開(kāi)路輸出max40V，100mA
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接觸錯(cuò)誤[CONT-E]：
集電極開(kāi)路輸出大40V，100mA
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日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀測(cè)量結(jié)束信號(hào)[EOC]：集電極開(kāi)路輸出大40V，100mA
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周邊環(huán)境
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溫度：5℃?+ 40℃濕度：85％以下
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需要電源
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AC85V-265V，50-60HZ，約60VA
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外形尺寸
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333（W）x 99（H）x 300（D）mm（不包括橡膠腳等突起）
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重量
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約3kg
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選項(xiàng)
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? RS-232C
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這些選項(xiàng)中 只有
一個(gè)
可以內(nèi)置。
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? GP-IB
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?日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀打印機(jī)輸出（Centronics）
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?打印機(jī)電纜
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?短接（零歐姆標(biāo)準(zhǔn)電阻）
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日本ae-mic超低電阻測(cè)試儀
